详细摘要: LST-208型白光共焦法平面度测试仪测量原理本机采用白光共聚焦传感器扫描法进行表面形貌测量,经过测量可以得到Wafer的表面几何尺寸特征信息
产品型号:所在地:北京市更新时间:2024-11-19 在线留言北京三禾泰达技术有限公司
详细摘要: LST-208型白光共焦法平面度测试仪测量原理本机采用白光共聚焦传感器扫描法进行表面形貌测量,经过测量可以得到Wafer的表面几何尺寸特征信息
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